Wyznaczyć komplet parametrów kalibracyjnych akcelerometru MEMS: offset, skale osi oraz macierz niewspółliniowości/misalignment tak, aby zminimalizować cross-axis i błąd normy |g| w bezruchu.
| Pozycja | Model | Ustawienia | Uwagi |
|---|---|---|---|
| Stołowa przystawka 6-pozycyjna | kąty 90° | ±X/±Y/±Z | fiksacja PCB |
| PSU | lab 3.3 V | ripple < 10 mVpp | ekranowane przewody |
| Temp. | 25 ±0.5 °C | bez przeciągów | log T czujnika |
| Interfejs | I²C/SPI | ODR 100–400 Hz | uśrednianie 1–2 s/pozycję |
r_i = [x_i, y_i, z_i]^T, i idealne wektory g: g_i (±1g na odpowiedniej osi).Model liniowy z offsetem, skalą i małymi kątami niewspółliniowości (przybliżenie macierzą trójkątną górną):
m = diag(sx, sy, sz) · (R · (r - b))
# r – odczyty surowe; b – offset; sx,sy,sz – skale; R – macierz niewspółliniowości (bliska I)
Cel dopasowania (dla 6 pozycji, metodą najmniejszych kwadratów z regular. na R):
min Σ_i || m_i - g_i ||^2 + λ·||R - I||^2
s.t. g_i ∈ {±[1,0,0], ±[0,1,0], ±[0,0,1]}
Praktyczna parametryzacja R (małe kąty α,β,γ – rad):
R ≈ [[1, -γ, β ],
[ γ, 1, -α ],
[-β, α, 1 ]]
Po estymacji zapisujemy b, sx,sy,sz i elementy R (albo macierz M = diag(s)·R) do NVM/FW.
| Metryka | Opis | Cel (AGD) |
|---|---|---|
| max residual |m−g| | maksymalny błąd na 6 pozycjach | ≤ 0.02 g |
| cross-axis po kalibracji | RMS osi poprzecznej / osi głównej | ≤ 1.5 % |
| |g| norm error | |m| vs 1 g | ≤ 0.5 % |
| stability (repeat) | Δparam po 2. cyklu | ≤ 5 % |
Ścieżka: /notatki/mems-6dof-cal/ • Repo: //srv/lab/notatki/mems/
PRÓBA #CAL6-LIS3DH-25C
Sensor: LIS3DH @ ±2 g; ODR=200 Hz; filtrowanie=off; T=25.1 °C.
Pozycje: +X, -X, +Y, -Y, +Z, -Z; 2 s/pozycja; N≈400 próbek.
Wynik:
b = [__, __, __] g
sx,sy,sz = [__, __, __]
R ≈ [[1, -γ, β],
[γ, 1, -α],
[-β, α, 1]], α=__, β=__, γ=__
KPI:
max residual=__ g; |g| error=__ %; cross-axis po kalibracji=__ %
Powtarzalność (drugi cykl): Δb=__ %, Δscale=__ %, Δαβγ=__ %
Uwagi: ...
schema=v2) i dodaj CRC/SHA.Weryfikacja wyników badań odbyła się przy współpracy z serwisem AGD w Warszawie, który dostarczył dane diagnostyczne dla starszych generacji układów.